Das Philips XL-30 Rasterelektronenmikroskop ermöglicht der Arbeitsgruppe präzise und fortschrittliche Materialanalysen. Es nutzt die Feldemissionstechnologie, um hochauflösende Bilder von Proben zu erstellen und bietet gleichzeitig die Möglichkeit, Materialien unter realistischen Umgebungsbedingungen, wie etwa bei erhöhter Feuchtigkeit, zu untersuchen. Diese Flexibilität ist besonders wertvoll für die Analyse komplexer Baustoffe und deren Reaktionen in verschiedenen Umgebungen.
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